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IGBT Ic/Vce 特性
需要: S-Pisces
最低版本: Atlas 5.28.1.R
powerex04_plot0
powerex04_plot1
本示例模拟了绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的 Ic–Vce 输出特性。该示例展示了:
- 使用 Atlas 创建 IGBT 器件结构
- Ic–Vce 测试的定义方法
- IGBT 的 Ic 随 Vce 变化的特性曲线
Atlas 仿真首先从 IGBT 器件结构的定义 开始。Atlas 被用于定义 IGBT 的结构,包括:
- 网格(mesh)
- 材料(materials)
- 电极(electrodes)
- 掺杂分布(doping)
首先定义一个较精细的矩形网格。接着使用 region 命令将不同材料分配到指定区域。然后定义电极和掺杂分布。此外,还可以修改这些材料、电极以及器件中载流子的某些特性。
material 语句用于定义半导体中电子和空穴的复合寿命。contact 语句用于定义多晶硅电极的功函数,在本例中,该电极为重掺杂 n 型多晶硅。至此,IGBT 器件结构的定义完成。
对于任何 Atlas 器件仿真,都必须使用 models 语句启用物理输运模型。在本例中,这些模型反映了 IGBT 器件中重要的物理效应,包括:
analytic:与载流子浓度相关的解析迁移率模型fldmob:横向电场相关的迁移率模型surfmob:表面迁移率退化模型srh:Shockley–Read–Hall 复合模型auger:考虑高注入效应的 Auger 复合模型
IGBT 的输出特性是通过在多个不同栅极电压下扫描集电极电压来获得的。在本示例中:
- 集电极电压将从 0 V 扫描到 20 V
- 栅极电压取 5 V 和 10 V
实现方法为:
- 首先在每一个感兴趣的栅极偏压下求解器件,此时其余所有电极均设为 0 V;
- 然后以该栅极偏压下的解作为初始解,对集电极电压进行扫描;
- 对每一组“栅极–集电极”扫描组合,分别保存输出日志文件;
- 最后使用 TonyPlot 将所有输出曲线叠加在同一张图上,得到 IGBT 的 Ic–Vce 特性曲线族。
要加载并运行本示例,请在 DeckBuild 中选择:
DeckBuild > Examples > Load
这将把输入文件以及相关的支持文件复制到你当前的工作目录。然后点击 Run 按钮即可执行该示例。